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Die Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) sowie Systeme für die Elektronenstrahllithografie und hochauflösende SEM-Messsysteme bilden die Basis für eine breite Produktpalette der Firma Raith im Bereich der Monofabrikation und des Nano-Engineerings sowie der Forschung auf dem Gebiet der Nanostrukturen und der Nanolithografie.
Dr. Ralf Jede
HRB 8984, Dortmund
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